Matalan tulokulman diffraktio (engl. Grazing Incidence Diffraction, GID) on röntgendiffraktioon pohjautuva menetelmä materiaalien pintakerrosten tutkimiseksi. Nimensä mukaisesti menetelmässä kohdistetaan näytteeseen röntgensäteitä matalalla tulokulmalla, jolloin absorption johdosta mitattu diffraktiosignaali syntyy vain pintakerroksesta. Kasvattamalla tulokulmaa saadaan röntgensäteet tunkeutumaan syvemmälle näytteeseen, ja näin ollen voidaan määrittää faasien jakautumista syvyyden funktiona. Syvyysprofiilin määritys on erityisen kiinnostava esimerkiksi pinnoitteille, joiden epäillään muodostavan diffuusiokerroksia substraatin rajapintaan.
Lue lisää röntgendiffraktiosta täältä.
