Materia tutkimuskeskuksen käytössä oleva jauheröntgendiffraktiolaitteisto on malliltaan Bruker D8 DISCOVER. Laaja kattaus lisäosia mahdollistaa lukuisten erilaisten analyysien suorittamisen.
Automaattinen näytteenvaihtaja
- 90 näytepaikkaa (15 näytepaikkaisia torneja kuusi kappaletta)
- Robotti lataa ja poistaa näytteet
- Mittaukset ja mittausdatan tallennus automaattisesti
- Tarvittaessa mittattujen diffraktogrammien Rietveld-hienonnus esim. faasiosuuksien laskemiseksi voidaan automatisoida
Eulerin kehto
- Näytteen kierrot kahden akselin suhteen ja X-Y-Z –siirrot mahdollisia
- Kaikki akselit motorisoituja ja mahdollista käyttää näytteen asettamisessa ja mittauksessa
- Bulkki- ja jauhenäytteille, ohutkalvoille ja –levyille
- Näytteen maksimikorkeus 40 mm ja maksimipaino 1 kg
- Kehto mahdollistaa mm. tekstuurimääritykset (kiteiden suuntautuminen), jäännösjännitysten määrittämisen, reflektometrimääritykset (XRR) ohutkalvojen mittamiseksi, faasien syvyysprofiloinnin (GID) kerroksellisilla näytteillä sekä mittaukset kuoppalevyistä tarkasti fokusoidun röntgensäteilyn avulla (mikrodiffraktio ja high throughput screening)
Kapillaarispinneri (asennus Eulerin kehtoon)
- Mittaukset kapillaareissa
- Kapillaarin pyöritys mahdollista mittauksen aikana
- Jauhenäytteille, nestemäisille näytteille, suspensioille
- Voidaan käyttää, kun näytemäärät ovat pieniä
- Käytetään parinjakaumafunktioanalyysin (PDF) tekemiseen, kun halutaan tutkia nanokiteisten tai amorfisten materiaalien lähijärjestystä.
- Mahdollista käyttää pienkulmasirontamäärityksissä (SAXS) kolloidinäytteille
Anton Paar DCS 350 –olosuhdekammio (asennus Eulerin kehtoon)
- Diffraktiomittaukset matalissa ja korotetuissa lämpötiloissa in situ
- Ilmassa/inertissä kaasussa huoneenlämmöstä +350 °C:een
- Vakuumissa -100 °C :sta +350 °C:een
- Näytteen maksimihalkaisija 25 mm
- Asennetaan Eulerin kehtoon, jolloin näytteelle voidaan tehdä mm. tekstuurimääritys halutussa lämpötilassa tai seurata faasitransitiota lämpötilan funktiona
LynxEye-detektori
- 1 D –detektori, 192 kanavaa
- Mahdollista käyttää Cr-, Co-, Cu- ja Mo-säteilyn kanssa
- Fluoresenssisäteilyn rajoittaminen elektronisesti signaali-kohina –suhteen parantamiseksi rauta- tai kobolttipitoisilla näytteillä Cu-säteilyä käytettäessä. Vaihtoehtoisesti voidaan käyttää Mo-säteilyä.
Muuta huomioitavaa
- Mittaukset normaalia Bragg-Brentano –geometriaa käyttäen tai parallel beam –geometrialla (Göbelin peili). Mahdollistaa myös epätasaisien näytteiden mittaamisen.
- Käytettävissä Cu-säteily (Kα1 0,1540562 nm) ja Mo-säteily (Kα1 0,070930 nm)
- Tekstuurimäärityksiä ja mikrodiffraktiota varten Cu-putki on käännettävissä viivafokuksesta pistefokukseen
- Eulerin kehdolla mitattaessa näytteen korkeussäätöön on käytettävissä laserpointterit goniometrin primääri- ja sekundäärikehillä näytteen kohdistamista varten. Goniometriin on kiinnitetty myös videokamera näytteen kuvaamiseksi mittauksen aikana.
- Monipuoliset mittaus- ja analyysiohjelmistot, joihin sisältyy mm. Rietveld-laskenta
Turvallisuus
- Direktiivien 2006/42/EC, 2006/95/EC ja 2004/108/EC mukainen
- Kaksi erillistä turvakytkintä
- Mitattu säteilyannos mittausolosuhteissa: 133 nSv/h (Mo, 50 kV/60 mA)
